中南大学“985工程”建设项目----公共大平台购置的FEI Helios Nanolab 600i 电子束/离子束双束显微镜（详见附件）已安装调试完毕，于2013年9月26日试运行，特此公告! 欢迎校内外有关单位研究人员送样检测及合作研究，我们将竭诚为您的高水平研究提供优质测试服务。

开放时间：周一至周五8:00-12：00 14:30-17:30

联系方式：傅老师（13973103177）、张老师（15388928816）

高等研究中心电镜实验室

2013年9月25日

附件：

主要功能：TEM透射电镜样品制备——特别是对于表面薄膜、涂层TEM样品；焊接界面TEM样品；晶界界面以及相界面等TEM样品的制备具有强大优势。制得的TEM样品可以直接用TEM透射电子显微镜观察，无需其它处理，特别适合TEM高分辨分析。SEM扫描电子显微镜结构分析——可以进行二次电子形貌分析且图像分辨率极高、背散射电子衬度分析、EDS能谱分析，EBSD背散射电子衍射分析——具有HKL公司先进的EBSD附件，可以进行晶体取向成像、显微织构、晶界等分析，分析速度快，标定准确度高。微纳结构加工——在微纳结构操作机械手、Omniprobe操作探针、离子束切割等的配合下，可以进行各种微纳材料的搬运、各种微纳结构形状或图案的加工。

主要性能指标：

二次电子像分辨率：0.9nm（15kV），1.4nm（1kV）

放大倍数：40~600000

加速电压：0.5~30kV

离子成像分辨率：4nm(30kV) 加速电压：0.5~30Kv

主要配置及附件：

EDS能谱仪、EBSD背散射电子衍射分析仪、纳米机械手、气体沉积针

应用领域：

广泛应用于材料科学、纳米技术、生物医学、物理、化学、地质、机械加工、微电路质量检验、失效分析等领域。