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物镜球差校正场发射透射电镜

型号:Titan G2 60-300

生产厂家:美国FEI公司

仪器介绍

Titan G2 60-300是一个真正多功能、多用户环境的300kV工具,它将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、能谱等)方便灵活地有机组合,形成强大的分析功能,而在同类型仪器中独占鳌头,它允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换,使用户可以在亚埃的分辨率进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

主要配件

Super-X能谱仪系统:FEI专利的Super-X能谱仪一体化统:探测器窗口/类型采用无窗口设计,有效探测器面积Detector area: 120 mm²,在同一用户界面下可以和STEM配合,进行有漂移校正的线扫描和面扫描定性/定量分析。

样品杆:低背景双倾样品杆样品台(α轴最大样品倾角:±40°,b轴最大倾角:±30°),单倾样品杆等;

一体化STEM系统:STEM硬件、扫描图像技术、高角度环形暗场探测器(HAADF Detector)、明/暗场探头(BF/DF Detector);

技术参数

加速电压:300KV

TEM点分辨率:80pm;

信息分辨率:优于80pm;

STEM分辨率:优于136pm

最大STEM采集角:12°(半角);

会聚束最大会聚角:100mrad;

样品台最大样品倾角:±40°;

双倾样品杆b轴倾角:±30°

应用范围

本仪器具有亚埃的高分辨率,并配有Super-X能谱仪,可在原子尺度探测研究物质的显微结构和成分,广泛应用于材料、化学化工、物理、地质矿物等学科及工程领域。

安放地址:

中南大学校本部分析测试中心电镜室108-109房

联系电话:

张老师13874895627 0731-88830416