仪器型号：Tecnai G2 F20 S-TWIN

生产厂家：FEI

技术参数：

加速电压：200 kV

TEM点分辨率：0.24 nm

STEM分辨率：0.2 nm

EDX能量分辨率：136 eV (Mn-Ka)

EELS能量分辨率：0.75 eV

旋进电子衍射：晶体取向分辨率1°，空间分辨率3 nm

应用范围：

固体材料微区形貌和结构分析

电子衍射图像分析

高分辨图像分析

EDX能谱分析（点、线、面）

元素价态分析

高通量晶体取向、晶相分布及应变分析

主要特点：

多功能、多用户环境的200 kV场发射透射，将各种透射电镜技术（BF/DF、SAED、HRTEM、PED、STEM、EDX、EELS等）方便灵活地有机组合，形成强大的综合分析功能。

联系人：

颜老师 15273157530 0731-88830416