仪器型号：场发射透射电子显微镜（Tecnai G2 F20 S-TWIN）

图(a)热解碳球横截面样品的27 eV/23eV plasmon ratio图(基于能量过滤像)，(b)热解碳球的EELS核损失谱和横截面样品的明场相。

碳球切开后可以观察其核心的结构，碳材料的石墨化程度跟plasmon峰的位置相关，石墨化程度从高到低对应的plasmon峰的位置变化为27 eV—23 eV，分别在EF-TEM模式下取27 eV(高石墨化程度)和23 eV(低石墨化程度)的能量过滤像，然后作比值，得到的结果图就能反应石墨化程度高的部分和石墨化程度低的部分，碳球核心石墨化程度低，外部石墨化程度高。