仪器型号：双球差矫正透射电子显微镜（Spectra 300S/TEM）

这是一个原子分辨率的EELS化学态分析，运用的分析方法是MLLS（多重线性最小二乘拟合），通过MLLS获取了两种不同的近边精细结构在二维平面上的分布。在最后的面分布图中，除了Ce的价态变化，也加上了Zr的元素分布图，获取了关于这个材料界面上，具有高空间分辨率的元素分布与价态分布。

HRSTEM图像显示了界面具有不平整的形貌，对界面区域进行了STEM EELS二维面扫，可以发现Ce的M4,5边的近边精细结构（ELNES）在界面附近与在氧化铈内部发生了变化，这种变化主要体现在M5/M4两条white line强度的比值的差异，上图中，绿色的谱线来自于氧化铈内部区域，可以看到M4边（第二个峰）的强度高于M5边（第一个峰），这是典型的4价Ce元素的近边精细结构的特征，而在界面处，即红色谱线，Ce的M4边强度降低，这表明Ce元素的价态从4价往3价的迁移，Ce在界面上的价态变化（往低价态）辨明了界面处可能存在着较高的氧空位浓度，而氧空位的存在提高了界面处的离子输运性能。